1 | Контактирующее устройство FP-14-S-0001 | Тест-Контакт | 14 | 1,25 | 9,20 | 6,00 | 2,50 | Скачать FP-14-S-0001_passport.PDF | Аналог УК1-1М для корпуса 4105.14 |
10 | Контактирующее устройство FP-16-S-0002 | Тест-Контакт | 16 | 1,25 | 11,00 | 9,10 | 5,00 | Скачать FP-16-S-0002_passport.PDF | |
12 | Контактирующее устройство FP-24-S-0005 | Тест-Контакт | 24 | 1,25 | 15,00 | 11,80 | 5,00 | Скачать FP-24-S-0005_passport.PDF | |
13 | Контактирующее устройство QFP-16-S-0003 | Тест-Контакт | 16 | 1,00 | 7,60 | 7,20 | 2,90 | Скачать QFP-16-S-0003_passport.PDF | |
14 | Контактирующее устройство QFP-16-S-0006 | Тест-Контакт | 16 | 1,00 | 6,30 | 6,30 | 2,90 | Скачать QFP-16-S-0006.PDF | |
15 | Контактирующее устройство QFP-24-S-0004 | Тест-Контакт | 24 | 1 | 9,00 | 7,40 | 2,90 | Скачать QFP-24-S-0004.1.PDF | |
16 | Контактирующее устройство FP-tl-h-28-1.25-001 | Тест-Контакт | 28 | 1,25 | 18,60 | 18,80 | 3,00 | Скачать FP-tl-h-28-1.25-001.PDF | |
17 | Контактирующее устройство QFP-cl-h-42-1.0-001/QFP-42-S-0015 | Тест-Контакт | 42 | 1,00 | 11,80 | 11,80 | 3,00 | Скачать QFP-42-S-0015_passport.PDF | |
18 | Контактирующее устройство FP-сl-h-10-1.0-001/FP-10-S-0016 | Тест-Контакт | 10 | 1,00 | 6,30 | 6,30 | 2,90 | Скачать FP-l-h-10-1.0-001.PDF | |
19 | Контактирующее устройство FP-24-S-0009 | Тест-Контакт | 24 | 1,25 | 19,35 | 17,65 | 3,35 | Скачать FP-24-S-0009_passport.PDF | |
20 | Контактирующее устройство FP-32-S-0012 | Тест-Контакт | 32 | 0,5 | 12,25 | 8,30 | 2,90 | Скачать FP-32-S-0012_passport.PDF | |
21 | Контактирующее устройство QFP-28-S-0007 | Тест-Контакт | 28 | 1,00 | 8,65 | 8,65 | 2,90 | Скачать QFP-28-S-0007_passport.PDF | |
22 | Контактирующее устройство QFP-48-S-0011 | Тест-Контакт | 48 | 1,00 | 13,92 | 13,92 | 2,90 | Скачать QFP-48-S-0011_passport.PDF | |
23 | Контактирующее устройство QFP-64-S-0010 | Тест-Контакт | 64 | 1,00 | 18,00 | 18,00 | 2,90 | Скачать QFP-64-S-0010_passport.PDF | |
24 | Контактирующее устройство FP-28-S-0013 | Тест-Контакт | 28 | 1,25 | 18,09 | 12,43 | 2,71 | Скачать FP-28-S-0013_passport.PDF | |
25 | Контактирующее устройство FP-20-S-0008 | Тест-Контакт | 20 | 1,25 | 13,00 | 11,73 | 3,03 | Скачать FP-20-S-0008_passport.PDF | |
26 | Контактирующее устройство FP-24-S-0014 | Тест-Контакт | 24 | 1,25 | 18,40 | 15,80 | 3,35 | Скачать FP-24-S-0014_passport.PDF | |
27 | Контактирующее устройство FP-34-S-0017 | Тест-Контакт | 34 | 1,25 | 26,52 | 19,50 | 3,00 | Скачать FP-34-S-0017_passport.PDF | Посадочные места отличаются в разных исполнениях |
28 | Контактирующее устройство FP-tl-h-34-1.25-001 | Тест-Контакт | 34 | 1,25 | 26,52 | 19,50 | 3,00 | Скачать FP-tl-h-34-1.25-001_passport.PDF | Посадочные места отличаются в разных исполнениях |
29 | Контактирующее устройство PGA-29-S-0018 | Тест-Контакт | 29 | 2,50 | 39,00 | 29,00 | 5,00 | Скачать PGA-29-S-0018_passport.PDF |
170 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-54-0.8-001 | Тест-Контакт | 54 | 0,80 | 24,45 | 11,40 | 8,10 | Скачать SOP-tl-h-54-0.8-001.PDF | |
171 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-54-0.8-002 | Тест-Контакт | 54 | 0,80 | 23,80 | 10,85 | 4,95 | Скачать SOP-tl-h-54-0.8-002_passport.PDF | |
172 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-64-0.5-002 | Тест-Контакт | 64 | 0,50 | 19,15 | 11,45 | 9,60 | Скачать SOP-tl-h-64-0.5-001.PDF | |
173 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-66-0.5-002 | Тест-Контакт | 66 | 0,50 | 18,90 | 11,20 | 9,5 | Скачать SOP-tl-h-66-0.5-002_passport.PDF | |
174 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-68-0.8-001 | Тест-Контакт | 68 | 0,80 | 29,40 | 10,30 | 11,55 | Скачать SOP-tl-h-68-0.8-001_passport.PDF | |
175 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-70-0.635-001 | Тест-Контакт | 70 | 0,635 | 24,00 | 15,00 | 10,70 | Скачать SOP-tl-h-70-0.635-001.PDF | |
176 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-70-0.635-002 | Тест-Контакт | 70 | 0,635 | 23,80 | 9,40 | 14,80 | Скачать SOP-tl-h-70-0.635-002_passport.PDF | |
177 | Контактирующее устройство SOP-tl-h-84-0.508-001 | Тест-Контакт | 84 | 0,508 | 26,90 | 26,05 | 8,85 | Скачать SOP-tl-h-84-0.508-001_SB.PDF | |
178 | Контактирующее устройство SOT-cl-h-3-001 | Тест-Контакт | 2 | 18,00 | 24,00 | 10,50 | 6,40 | Скачать SOT-cl-h-3-001_passport.PDF | |
179 | Контактирующее устройство SOT-cl-h-3-1.5-001 | Тест-Контакт | 4 | 1,50 | 4,60 | 2,60 | 1,60 | Скачать SOT-cl-h-3-1.5-001_passport.PDF | |
180 | Контактирующее устройство SOT-cl-h-3-1.9-001 | Тест-Контакт | 3 | 1,90 | 3,00 | 1,40 | 1,10 | Скачать SOT-cl-h-3-1.9-001_passport.PDF | |
181 | Контактирующее устройство SOTP-5-001 | Тест-Контакт | 5 | 0,65 | 1,80 | 1,15 | 1,10 | Скачать SOTP-5-001.PDF | |
182 | Контактирующее устройство SO-tl-h-48-0.635-001 | Тест-Контакт | 48 | 0,635 | 15,57 | 9,52 | 2,18 | Скачать SO-tl-h-48-0.635-001_passport.PDF | |
183 | Контактирующее устройство TCC-4-0.5-001 | Тест-Контакт | 4 | 5,08 | 13,97 | 9,14 | 4,78 | Скачать TCC-4-0.5-001.PDF | |
184 | Контактирующее устройство TCF-8-5.1-001 | Тест-Контакт | 8 | 5,10 | 28,6 | 26,00 | 13,30 | Скачать TCF-8-5.1-001—EL215E2J.PDF | |
185 | Контактирующее устройство TCF-10-1.3-001 | Тест-Контакт | 10 | 1,30 | 16,30 | 20,60 | 10,40 | Скачать TCF-10-1.3-001.PDF | |
186 | Контактирующее устройство TCF-24-1.52-001 | Тест-Контакт | 24 | 1,52 | 19,90 | 10,80 | 9,10 | Скачать TCF-24-1.52-001.PDF | |
187 | Контактирующее устройство TK-cl-h-3-001 | Тест-Контакт | 4 | D 3 | D 3 | 1,60 | Скачать TK-cl-h-3-001_passport.PDF | ||
188 | Контактирующее устройство TK-cl-h-3-004 | Тест-Контакт | 3 | D 5,2 | D 5,2 | 2,7 | Скачать TK-cl-h-3-004_passport.PDF | ||
189 | Контактирующее устройство TK-cl-h-2-2.7-001 | Тест-Контакт | 2 | 3,28 | 3,38 | 4,14 | 3,30 | Скачать TK-cl-h-2-2.7-001_passport.PDF |
130 | Контактирующее устройство QFN-cl-h-72-0.8-001 | Тест-Контакт | 86 | 0,80 | 15,85 | 14,85 | 5,70 | Скачать QFN-cl-h-72-0.8-001.PDF | |
131 | Контактирующее устройство QFN-tl-e-24-0.5-001 | Тест-Контакт | 24 | 0,50 | 3,85 | 3,85 | 1,27 | Скачать QFN-tl-e-24-0.5-001.PDF | |
132 | Контактирующее устройство QFN-tl-e-28-0.65-001 | Тест-Контакт | 28 | 0,65 | 6,00 | 6,00 | 1,14 | Скачать QFN-tl-e-28-0.65-001.PDF | |
133 | Контактирующее устройство QFN-tl-h-24-0.5-001 | Тест-Контакт | 24 | 0,50 | 3,85 | 3,85 | 1,04 | Скачать QFN-tl-h-24-0.5-001.PDF | |
134 | Контактирующее устройство QFP-80-001-GW | Тест-Контакт | 80 | 1,016 | 22,60 | 22,60 | 3,3 | Скачать QFPM-80-1.016-001.pdf | |
135 | Контактирующее устройство QFP-132-001 | Тест-Контакт | 240 | 0,50 | 33,70 | 33,70 | 4,50 | Скачать QFPM-132-0.635-001.pdf | |
136 | Контактирующее устройство QFP-cl-h-15-1.0-001 | Тест-Контакт | 15 | 1,00 | 8,80 | 8,80 | 3,00 | Скачать QFP-cl-h-15-1.0-001_passport.PDF | |
137 | Контактирующее устройство QFP-cl-h-16-0.76-001 | Тест-Контакт | 16 | 0,76 | 5,84 | 5,84 | 1,65 | Скачать QFP-cl-h-16-0.76-001_passport.PDF | |
138 | Контактирующее устройство QFP-cl-h-44-1.27-001 | Тест-Контакт | 44 | 1,27 | 16,50 | 16,50 | 2,54 | Скачать QFP-l-h-44-1.27-001.PDF | |
139 | Контактирующее устройство QFP-tl-h-96-1.27-001 | Тест-Контакт | 96 | 1,27 | 36,07 | 35,07 | 5,08 | Скачать QFP-tl-h-96-1.27-001_passport.PDF | |
140 | Контактирующее устройство QFP-tl-h-108-0.625-001 | Тест-Контакт | 108 | 0,625 | 21,74 | 21,74 | 2,30 | Скачать QFP-tl-h-108-0.625-001_passport.PDF | |
141 | Контактирующее устройство QFP-tl-h-144-0.5-001 | Тест-Контакт | 144 | 0,50 | 19,80 | 19,80 | 1,6 | Скачать QFP-tl-p-144-0.5-001.PDF | |
142 | Контактирующее устройство QFP-tl-h-144-0.5-002 | Тест-Контакт | 144 | 0,50 | 21,80 | 21,80 | 2,87 | Скачать QFP-tl-h-144-0.5-002.PDF | |
143 | Контактирующее устройство QFP-tl-h-352-0.5-001 | Тест-Контакт | 352 | 0,50 | 55,07 | 55,07 | 3,71 | Скачать QFP-tl-h-352-0.5-001_passport.PDF | |
144 | Контактирующее устройство QFP-tl-p-176-0.5-001 | Тест-Контакт | 176 | 0,50 | 23,80 | 23,80 | 1,60 | Скачать QFP-tl-p-176-0.5-001.PDF | |
145 | Контактирующее устройство QFPT-68-1.27-001 | Тест-Контакт | 68 | 1,27 | 28,20 | 28,20 | 3,81 | Скачать QFPT-68-1.27-001-.PDF | |
146 | Контактирующее устройство QLCC-44-1.27-001 | Тест-Контакт | 44 | 1,27 | 16,50 | 16,50 | 4,70 | Скачать QLCC-44-1.27-001.pdf | |
147 | Контактирующее устройство QLCC-cl-h-10-2.54-001 | Тест-Контакт | 10 | 2,54 | 8,90 | 6,90 | 1,80 | Скачать QLCC-cl-h-10-2.54-001.PDF | |
148 | Контактирующее устройство QLCC-cl-h-12-2.54-001 | Тест-Контакт | 12 | 2,54 | 13,10 | 6,30 | 1,90 | Скачать QLCC-cl-h-12-2.54-001.PDF | |
149 | Контактирующее устройство SMA-2-001 | Тест-Контакт | 2 | 4,20 | 4,80 | 2,25 | 1,95 | Скачать SMA-2-001.PDF |
293 | Контактирующее устройство SOP-4-001 | Тест-Контакт | 4 | 5,08 | 14,1 | 9,53 | 3,81 | Скачать SOP-4-001_passport.PDF | |
294 | Контактирующее устройство SOTC-6-1.5-001 | Тест-Контакт | 24 | 1,5 | 6,7 | 4,6 | 1,7 | Скачать SOTC-6-1.5-001_passport.PDF | |
295 | Контактирующее устройство WSON-cl-h-6-0.65-001 | Тест-Контакт | 7 | 0,65 | 2,0 | 2,0 | 0,8 | Скачать WSON-cl-h-6-0.65-001_passport.PDF | |
296 | Контактирующее устройство QFN-cl-h-48-0.5-003 | Тест-Контакт | 48 | 0,5 | 6,0 | 6,0 | 1,9 | Скачать QFN-cl-h-48-0.5-003_passport.PDF | |
297 | Контактирующее устройство QFN-cl-p-72-0.5-001 | Тест-Контакт | 72 | 0,5 | 10,0 | 10,0 | 1,1 | Скачать QFN-cl-p-72-0.5-001_passport.PDF | |
298 | Контактирующее устройство QFN-cl-p-40-0.5-001 | Тест-Контакт | 40 | 0,5 | 6,0 | 6,0 | 1,1 | Скачать QFN-cl-p-40-0.5-001_passport.PDF | |
299 | Контактирующее устройство QFN-cl-p-40-0.5-002 | Тест-Контакт | 40 | 0,5 | 6,0 | 6,0 | 1,1 | Скачать QFN-cl-p-40-0.5-002_passport.PDF | |
300 | Контактирующее устройство QFN-cl-p-40-0.5-003 | Тест-Контакт | 40 | 0,5 | 6,0 | 6,0 | 1,1 | Скачать QFN-cl-p-40-0.5-003_passport.PDF |
контактирующее устройство — патент РФ 2498449
Изобретение относится к области проектирования контактирующих устройств для бескорпусных электронных компонентов и микроплат для трехмерных сборок и может быть использовано при производстве интегральных схем для их функционального контроля и электротренировки (ЭТТ). Изобретение обеспечивает низкую стоимость операций функционального контроля и ЭТТ электронных компонентов. Сущность изобретения: контактирующее устройство выполняют в виде рамки с растянутой на ней гибкой печатной платой, имеющей выступ с внешним разъемом, на гибкой печатной плате ориентировано закреплены шаблоны, имеющие сквозные окна для размещения в них контролируемых электронных компонентов, на поверхности гибкой печатной платы проводники своими выступами образуют ламели с контактными зонами в соответствии с топологией контактных площадок контролируемых элементов, при этом суммарный зазор между окном шаблона и электронным компонентом не должен превышать расстояние между смежными ламелями, между основанием контактирующего устройства и гибкой печатной платой расположена эластичная прокладка, материал которой обладает свойством упругой деформации, электронные компоненты, размещенные в окнах шаблонов, со своей обратной стороны имеют тепловой контакт с теплоотводом, который одновременно служит механическим прижимом, на поверхности теплоотвода и рамки, контактирующих с гибкой печатной платой, нанесено электроизоляционное покрытие. 5 з.п. ф-лы, 8 ил.
Формула изобретения
1. Контактирующее устройство, предназначенное преимущественно для контроля и испытаний электронных компонентов, содержащее механический прижим для обеспечения контакта электронных компонентов с контактирующим устройством, жесткое основание и теплоотвод, отличающееся тем, что контактирующее устройство выполнено в виде рамки с растянутой на ней гибкой печатной платой, имеющей выступ с внешним разъемом, на гибкой печатной плате ориентировано, закреплены шаблоны, имеющие сквозные окна для размещения в них контролируемых электронных компонентов, на поверхности гибкой печатной платы проводники своими выступами образуют ламели с контактными зонами в соответствии с топологией контактных площадок контролируемых элементов, при этом суммарный зазор между окном шаблона и электронным компонентом не должен превышать расстояние между смежными ламелями, между основанием контактирующего устройства и гибкой печатной платой расположена эластичная прокладка, материал которой обладает свойством упругой деформации, электронные компоненты, размещенные в окнах шаблонов, со своей обратной стороны имеют тепловой контакт с теплоотводом, который одновременно служит механическим прижимом, на поверхности теплоотвода и рамки, контактирующие с гибкой печатной платой нанесено электроизоляционное покрытие.
2. Контактирующее устройство по п.1, отличающееся тем, что между теплоотводом с электронным компонентом в местах контакта расположены слои теплопроводного материала, выполненные, например, в виде теплопроводной пасты.
3. Контактирующее устройство по п.1, отличающееся тем, что ламели контактных полей гибкой печатной платы и ламели, формирующие внешний разъем, имеют износоустойчивое токопроводящее покрытие.
4. Контактирующее устройство по п.1, отличающееся тем, что эластичная прокладка выполнена из эластичного слоя, нанесенного на поверхность основания, прилегающей к гибкой печатной плате.
5. Контактирующее устройство по п.1, отличающееся тем, что материал теплоотвода, контактирующий с электронным компонентом, а также материал рамки, контактирующий с гибкой печатной платой, выполнены электроизоляционными.
6. Контактирующее устройство по пп.1-4, отличающееся тем, что гибкая печатная плата с закрепленными на ней шаблонами, в которых размещены контролируемые компоненты, имеет волнообразную форму, при этом во впадинах печатной платы размещены эластичные прокладки, а компоненты попарно своими обратными поверхностями имеют тепловой контакт с теплоотводами; при этом выступающие за габариты печатной платы теплоотводы образуют внешний радиатор контактирующего устройства, а, по меньшей мере, один из теплоотводов имеет выступ для образования совместно с гибкой печатной платой внешнего разъема контактирующего устройства; при этом пластины-теплоотводы, находящиеся на торцах контактирующего устройства, соединены с элементом для придания сжимающего усилия, достаточного для обеспечения электрического контакта контактных площадок компонентов с ламелями контактных полей гибкой печатной платы.
Описание изобретения к патенту
Область техники, к которой относится изобретение
Данное изобретение относится к области проектирования устройств, обеспечивающих групповой функциональный контроль и электротермотренировку (ЭТТ) полупроводниковых кристаллов после их извлечения из пластины и микроплат для трехмерных электронных модулей.
Уровень техники
Известны метод и аппаратура для производства гарантированно годного кристалла по патенту США 5,640,762, МПК Н05К 3/30 от 24.06.97 г.
Метод включает в себя шаги: тестирование годности кристалла на пластине, разрезка пластины на единичные кристаллы; а затем тестирование кристалла путем сборки носителя, имеющего межсоединения, приспособленные для создания электрического соединения между контактными площадками на кристалле и внешними тестирующими устройствами. Межсоединения для носителя могут быть сформированы с использованием различных технологий, включая: толстопленочные контактные элементы конструкции на жесткой подложке; самоограничивающиеся контактные элементы конструкции на кремниевой подложке или микростолбчатые элементы с текстурной поверхностью. Во время сборки носителя кристалл и межсоединения оптически совмещаются и входят в контакт с определенной контактной силой. Это устанавливает электрическое соединение между контактными элементами конструкции и контактными площадками кристалла. В собранном носителе кристалл и межсоединение сочленяются вместе с помощью механизма распределения силы, который включает в себя выгнутую скобу, пластину для надавливания и пружинный зажим. Следует тестирование кристалла, носитель разбирается и тестированный кристалл удаляется.
Данное решение имеет несколько принципиальных недостатков: в конструкции не предусмотрена возможность выравнивания каждого контактного элемента с контактной площадкой кристалла; контактный элемент имеет высоту выступа не более долей микрометра, что практически невыполнимо; не предусмотрено одновременное групповое контактирование нескольких кристаллов. Все это делает данное решение только теоретически выполнимым.
Известны также метод и аппаратура для осуществления на уровне пластин тестирования кристаллов интегральных схем по патенту США № 5,399,505, МПК H01L 21/66 от 21.03.95 г.
Полупроводниковые пластины включают кристаллы интегральных схем, проводники на пластине и контактные площадки пластины, сформированные на ней. Проводники на пластине используются для передачи электрических сигналов к кристаллам интегральных схем и от них так, что может быть проведено на уровне пластины тестирование и ЭТТ кристаллов интегральных схем. В соответствии с одним из вариантов воплощения, каждый проводник на пластине электрически соединен с одной и той же площадкой на каждом кристалле интегральных схем. Каждый проводник на пластине включает, по меньшей мере, свою часть проводника, которая проходит сверху поверхности, по меньшей мере, одного кристалла интегральной схемы.
К преимуществам данного решения следует отнести попытку группового контроля и ЭТТ кристаллов в составе пластины. К недостаткам — параллельное соединение одноименных контактных площадок всех кристаллов, что делает весьма затруднительным определение вышедшего из строя кристалла; решение практически ограничивается только схемами памяти, так как другие схемы потребуют очень сложной разводки по поверхности пластины и огромного количества внешних контактных площадок на пластине; предложенная конструкция контактирующего устройства предусматривает жесткое закрепление каждого контакта относительно внешней контактной площадки пластины, что не позволяет вторичное использование такого контактирующего устройства.
Известно также техническое решение по патенту ЕР 0287451, МПК H01L 21/66 от 12.04.88 г. «Способ и устройство для соединения и монтажа электронного компонента при испытаниях».
Способ предусматривает соединение компонента с рамкой, расположенной по периферии компонента, с помощью проволочных проводников. Испытания компонента проводят, соединяя испытательное оборудование с упомянутой рамкой. После испытаний компонент монтируют на подложке, а соединение компонента с подложкой осуществляют проводниками, соединяющими компонент с рамкой. После соединения проводники перерезают по линии между контактными площадками на подложке и рамкой, после чего рамку убирают. Данный способ практически применим только при последующем использовании компонента при помощи сварки и неприменим для других видов использования, например, в трехмерных модулях.
Известно техническое решение по патенту ЕР 0554622, МПК G01R 31/26 от 21.12.92 г. «Аппаратура и метод контроля голых кристаллов».
Данный метод заключается в том, что голый кристалл, вычлененный из полупроводниковой пластины, при помощи оптической системы совмещения типа flip-chip совмещается с выступами из припоя, нанесенными на многослойную печатную плату, выполненную на кремниевом или алюминиевом основании. К кристаллу прикладывается внешнее усилие, необходимое для пластической деформации выступов и обеспечения контактирования всех контактных площадок кристалла с выступами на печатной плате. Недостатками данного метода является невозможность вторичного использования печатной платы для контактирования другого кристалла, а также не предусмотрен групповой контроль кристаллов.
Известен способ присоединения полупроводникового прибора с помощью плоских выводов к тестовой подложке и с использованием клиновидного электрода заявка PCT/US 90/06583, МПК H01L 21/66 от 26.12.90 г.
Электронный компонент временно устанавливают на временную тестовую подложку. Контактные площадки этого компонента соединены с контактными площадками тестовой подложки с помощью проволочных или плоских выводов. Для соединения выводов используют клиновидный электрод, с помощью которого в центральной части вывода формируют участок типа «крыло чайки». Установленный на тестовой площадке компонент тестируют, подавая заданные сигналы на его контакты. После этого контактные выводы перерезают в области их соединения с контактными площадками тестовой подложки и удаляют прибор с оставшимися выводами. Контактные выводы выполнены из жесткого материала и присоединены к краям прибора с помощью клея, что позволяет сохранить свою форму после удаления с временной тестовой подложки. Затем компонент устанавливают на постоянную подложку прибора и присоединяют его выводы к соответствующим контактным площадкам этой подложки. Недостатком этого метода является наличие приваренных к компоненту проволочных или плоских выводов, которые затем необходимо перерезать, а также большая трудоемкость тестирования компонентов.
Известно способ монтажа на ленту для динамической ЭТТ кристаллов по патенту США № 4,981,817, МПК H01L 23/528 от 01.01.91 г.
Способ заключается в том, что смонтированные на ленту кристаллы, присоединены к проводникам, сформированным на ленте, стандартными методами. В ленте предусмотрены сквозные окна, к которым подходят проводники, необходимые для динамической ЭТТ кристаллов. К обратной стороне ленты прикреплена дополнительная лента, имеющая проводники для соединения с внешним тестовым устройством. Разводка на основной ленте соединена в окнах с разводкой на дополнительной ленте при помощи перемычек или объемных контактов. Недостатком данного метода является необходимость использования кристалла после проведения ЭТТ только с участком ленты, к которой он присоединен, вторичное использование носителей исключается.
Известна конструкция контактирующего устройства по статье «Bum-in test sockets beneficial for high volume CSP applications» в журнале «Advanced Packaging» июль/август 1998 г., c.32÷37.
Контактирующее устройство предназначено для тестирования и ЭТТ кристаллов и корпусированных интегральных схем с шариковыми выводами. Каждый шариковый вывод захватывается разрезным гнездом типа пинцетного зажима с заостренными концами. При этом шариковый вывод, выполненный из мягкого припоя, несколько деформируется сбоку. Допускается шаг расположения шариковых выводов не менее 0,75 мм. Данное техническое решение ограничено применением только приборов с шариковыми выводами со значительным шагом расположения и является очень сложным в изготовлении, особенно при большом количестве выводов.
Известно также способ изготовления и контроля электронных компонентов» по российскому патенту 2133522, МПК H01L 21/66 от 03.11.97 г.
Данный способ заключается в том, что множество кристаллов располагают в пресс-форме, ориентируясь на контактные площадки кристаллов и базовые элементы пресс-формы, изолируют все незащищенные поверхности кристаллов, кроме контактных площадок. Отличие способа заключается в том, что при расположении в пресс-форме кристаллы фиксируют между собой с образованием группового носителя, при этом обеспечивают расположение лицевых поверхностей кристаллов в единой плоскости с одной из поверхностей группового носителя, при этом на эту плоскость наносят одновременно все проводники, необходимые для ЭТТ и контроля, а также разъем. Вариантом способа является то, что одновременно с кристаллами в пресс-форму помещают групповую металлическую рамку, которую фиксируют одновременно с кристаллами. Преимуществом данного способа является осуществление группового контроля и ЭТТ, а также высоконадежное соединение между компонентами и с внешним разъемом. К недостаткам следует отнести разовое применение групповой микроплаты и невозможность контроля и ЭТТ голых кристаллов.
Наиболее близким аналогом к заявляемому изобретению (прототипом) является техническое решение по патенту США № 5,831,445, МПК: G01R 1/06 от 03.11.98 г.
Пластины соединяются с печатной платой, которая электрически контактирует с площадками на каждом кристалле, используя маленькие проводящие контактные столбики. Точное совмещение целой пластины внутри устройства позволяет тестировать все кристаллы на пластине одновременно, исключая необходимость исследования каждого кристалла в отдельности. Устройство оснащается тепловыми элементами и охлаждающими каналами для получения необходимой температуры пластины при ЭТТ и тестировании. Способ исключает использование дефектных кристаллов после ЭТТ и тестирования, повышая, таким образом, эффективность сборки. Достоинством данного технического решения является попытка проведения групповой ЭТТ и контроля в составе пластины, а также наличие теплоотвода. К недостаткам следует отнести контактирование пластины с контактными столбиками путем их пластической деформации, что вызывает необходимость больших усилий при сочленении платы с пластиной и делает невозможным вторичное применение данной конструкции контактирующего устройства.
Основной задачей данного изобретения является создание конструкции группового контактирующего устройства, обеспечивающего низкую стоимость операций функционального контроля и ЭТТ электронных компонентов.
Раскрытие изобретения
Поставленная задача решается тем, что групповое контактирующее устройство (далее — КУ), имеющее контактное поле, механический прижим, обеспечивающий контакт компонентов с КУ, имеющее жесткое основание и теплоотвод, имеет контактное поле, выполненное в виде гибкой печатной платы, образующей контактные зоны, ламели которых расположены в соответствии с топологией контактных площадок контролируемых компонентов, а также имеет ламели внешнего разъема. Ламели контактных полей гибкой печатной платы, имеющие контакт с контактными площадками компонентов, а также ламели, формирующие внешний разъем, имеют износоустойчивое токопроводящее покрытие, а контактные площадки компонентов должны быть предварительно очищены от загрязнений и окисных пленок. Гибкая печатная плата может иметь многослойную разводку и изготавливается из тонкого изоляционного материала, позволяющего компенсировать неплоскостность в расположении ламелей контактных зон.
Гибкая печатная плата закреплена в растянутом виде на рамке и частично охватывает по внешнему контуру рамку, образуя внешний разъем. Закрепление целесообразно производить методом приклейки. На гибкой печатной плате закреплены шаблоны, имеющие сквозные окна для размещения контролируемых компонентов. Места закрепления шаблонов находятся на максимально возможным расстоянии от окна. Шаблоны могут быть выполнены как из изоляционного материала, так и из металла, но в этом случае все поверхности шаблонов должны иметь электроизоляционное покрытие. Материал шаблонов должен позволять прецизионную обработку при изготовлении сквозных окон.
Размер суммарного зазора между окном шаблона и компонентом в плане должен обеспечивать совмещение ламелей контактной зоны КУ только с соответствующими контактными площадками компонента. Увеличенный зазор может привести к отсутствию контакта ламели с контактной площадкой компонента или к замыканию ламелью соседних контактных площадок компонента. Каждый шаблон устанавливается с ориентацией каждого его окна с расположением ламелей соответствующей контактной зоны гибкой печатной платы.
Между основанием КУ и гибкой печатной платой расположена эластичная прокладка, выполненная преимущественно из резиновой пластины малой толщины (как правило, не более 1 мм) и имеющей хорошие упругие свойства. В основании предусмотрены впадины для заполнения материалом прокладки при приложении сжимающего усилия на КУ. Роль эластичной прокладки выполняет также эластичный слой, нанесенный на поверхность основания, прилегающую к гибкой печатной плате.
Компоненты, размещенные в окнах шаблонов, со своей обратной стороны имеют тепловой контакт с теплоотводом, который одновременно служит внешним прижимом. Тепловой контакт компонента с теплоотводом обеспечивают путем нанесения дозированного слоя теплопроводного материала в места контакта, например, теплопроводной пасты. Поверхности теплоотвода, контактирующие с компонентом, а также поверхности рамки, контактирующие с гибкой печатной платой, имеют электроизоляционное покрытие или должны быть выполнены из электроизоляционного материала.
Внешний размер каждого шаблона в плане, места его крепления к гибкой печатной плате, величину сжимающего усилия, а также толщину и материал эластичной прокладки выбирают таким образом, чтобы обеспечить упругую деформацию эластичной прокладки и гибкой печатной платы с целью получить надежный электрический контакт каждой ламели контактного поля гибкой печатной платы с соответствующей контактной площадкой контролируемого компонента.
Описано также выполнение устройства, в котором гибкая печатная плата с закрепленными на ней шаблонами, в которых размещены контролируемые компоненты, имеет волнообразную (зигзагообразную) форму, при этом во впадинах печатной платы размещены эластичные прокладки. Компоненты попарно своими обратными поверхностями имеют тепловой контакт с пластинами-теплоотводами, при этом выступающие за габариты гибкой печатной платы пластины-теплоотводы образуют внешний радиатор контактирующего устройства. По меньшей мере, одна из пластин-теплоотводов имеет выступ для образования совместно с гибкой печатной платой внешнего разъема описываемого устройства.
После сборки к пластинам-теплоотводам, находящимся на торцах контактирующего устройства, прикладывают сжимающее усилие, достаточное для обеспечения электрического контакта контактных площадок компонентов с ламелями контактных полей гибкой печатной платы.
Краткое описание чертежа
Где на фигурах 1-8 приведены конкретные примеры выполнения изобретения, на которых:
фиг.1 изображает планарный вариант группового контактирующего устройства;
фиг.2 изображает закрепленную на рамке гибкую печатную плату с шаблонами;
фиг.3 изображает совмещение контактных площадок компонента с ламелями контактной зоны гибкой печатной платы;
фиг.4 изображает участок контактирования компонента с гибкой печатной платой;
фиг.5 изображает вариант болтового зажима группового контактирующего устройства;
фиг.6 изображает вариант зажима плоской пружиной группового контактирующего устройства;
фиг.7 изображает пакетный вариант группового контактирующего устройства;
фиг.8 изображает гибкую печатную плату с шаблонами при пакетном варианте группового контактирующего устройства.
Осуществление изобретения
На фиг.1 показан планарный вариант контактирующего устройства, который состоит из теплоотвода 1, выполняющего одновременно функции прижима, рамки 2 с растянутой на ней гибкой печатной платой 3. На гибкой печатной плате 3 закреплены шаблоны 4. Гибкая печатная плата 3 с обратной стороны контактирует с эластичной прокладкой 5, которая зажата между гибкой печатной платой 3 и основанием 6. Рамка 2 имеет выступ 7, который огибает гибкая печатная плата 3, образуя внешний разъем 8 устройства контроля. На фиг.1 показан вариант использования в качестве испытуемых электронных компонентов голого кристалла 9 и кристалла с шариковыми выводами 10, помещенных в окна 11 шаблонов 4. Между теплоотводом 1 и обратными сторонами компонентов 9 и 10 дозировано нанесен слой теплопроводного материала 12.
На фиг.2 показана рамка 2 с растянутой на ней гибкой печатной платой 3, на поверхности которой нанесены проводники 13, которые образуют ламелями 14 контактные зоны в соответствии с топологией контактных площадок 15 компонентов 9 и 10. Шаблоны 4 ориентировано закреплены на гибкой печатной плате 3 с ориентацией окон 11 на ламели 14 контактных зон. Проводники 13 образуют также ламели 16 внешнего разъема 8.
На фиг.3 схематично показан вариант возможного совмещения контактных площадок 15 компонента 9 с ламелями 14 контактных зон. При этом размер зазора «а» между окном 11 в шаблоне 4 и компонентом 9 должен быть таким, чтобы любая контактная площадка 15 размером «b×b» была бы полностью перекрыта ламелью 14 контактной зоны на величину «с», но при этом выдерживался бы необходимый зазор «d», чтобы не произошло перемыкание контактных площадок 15 ламелью 14. Ламель 14 может быть раздвоена, как показано внизу фиг.3, для облегчения контроля наличия электрического контакта между ламелью 14 и контактной площадкой 15.
На фиг.4 укрупненно показан участок контактирования компонента 9 с нанесенным на него охватывающим проводником 17 с гибкой печатной платой 3. Теплоотвод 1 через теплопроводный материал 12 давит на компонент 9, который через гибкую печатную плату 3 деформирует эластичную прокладку 5, обеспечивая надежный электрический контакт ламели 14 контактной зоны с проводником 17 компонента 9. Впадина в основании 6 заполняется частично материалом эластичной прокладки 5.
На фиг.5 показан вариант болтового зажима устройства контроля, при котором зажим осуществляют при помощи болта 18 и гайки 19. Усилие зажима регулируют длиной втулки 20 и параметрами пружины 21. Между теплоотводом 1 и рамкой 2 помещают пружинную шайбу 22, удерживающую рамку 2 в неподвижном состоянии. На фиг.6 показан вариант зажима устройства с помощью плоской пружины 23, вставленной в окно штыря 24. В этом случае устройство предварительно сжимают до необходимой величины усилия и затем вставляют снизу (по фиг.6) штырь 24 с плоской пружиной 23, после чего сжатие снимают. Форма плоской пружины 23 выполнена такой, что она заклинивает всю сборку в сжатом состоянии. Для разборки устройства необходимо вновь сжать его, надеть на все штыри 24 втулки, сжимающие плоские пружины 23, после чего извлечь штыри 24 из отверстий устройства контроля.
На фиг.7 показан пакетный вариант устройства контроля. На гибкую печатную плату 3 закрепляют шаблоны 4 и помещают в их окна 11 компоненты, например, в виде кристалла 9 с нанесенными на него охватывающими проводниками 17 и в виде микроплаты 25. Гибкой печатной плате сначала придают волнообразную (зигзагообразную) форму и затем вставляют в полученные пазы эластичные прокладки 5. Между парами компонентов 9 и 25 помещают пластины-теплоотводы 26, которые имеют удлиненные зоны 27, образующие внешний радиатор устройства контроля. Пластины-теплоотводы 26 имеют тепловой контакт с компонентами 9 и 25 через теплопроводный материал 12. По меньшей мере, одна из пластин-теплоотводов 26 имеет выступ 28 для формирования совместно с гибкой печатной платой 3 внешнего разъема 8. К пластинам-теплоотводам 26, расположенным на торцах устройства контроля, прикладывается необходимое для контактирования внешнее усилие средствами, показанными на фиг.5 и 6. Данный вариант конструкции более компактен, чем показанный на фиг.1, но более сложен в сборке.
На фиг.8 показана гибкая печатная плата 3 для пакетного варианта устройства контроля. Гибкую печатную плату 3 с нанесенными проводниками 13, лам елями 14 контактных зон и ламелями 16 внешнего разъема 8, предварительно растягивают в технологическом приспособлении и в таком виде закрепляют на ней шаблоны 4 с ориентацией на ламели 14 контактных зон, после чего гибкую печатную плату обрезают по контуру. Пакетный вариант устройства контроля и гибкая печатная плата 3 могут быть выполнены в многорядном варианте, но это, соответственно, повлечет увеличение необходимого усилия сжатия.
Данное изобретение может быть с успехом использовано при изготовлении миниатюрной электронной аппаратуры с применением голых кристаллов, кристаллов со спецвыводами, а также для изготовления гарантированно годных кристаллов и микроплат для трехмерных модулей.
О компании
Компания Тест-Контакт с 2011 года разрабатывает и производит на собственном оборудовании контактирующие устройства (устройства контактные, контакторы, панельки, кроватки, сокеты) для любых типов электрорадиоизделий (ЭРИ):
- полупроводниковые приборы (в том числе, силовые транзисторы и диоды)
- интегральные схемы (в корпусах любых типов, в том числе, отечественных)
- реле, болометрические датчики, токовые модули, сборки на МЭМС-датчиках и пр.
Особенности заказных КУ Тест-Контакт в сравнении с серийными КУ зарубежных производителей предлагаем вам изучить по статье директора «Тест-Контакт», написанной по материалам его выступления на отраслевом семинаре, организованном АО «Российские космические системы».
Заказ можно сделать онлайн или по электронной почте [email protected].
Основные характеристики серийных КУ Тест-Контакт (более подробно характеристики КУ приведены в паспортах КУ):
Производство: Тест-Контакт (Москва).
Температурный диапазон: -60…+155 °С.
Частотный диапазон: от 2 ГГц @-3db.
Максимальный ток на один вывод: до 4 А
Сопротивление контакта: до 16 мОм
Ресурс отдельного коннектора: до 0.5 млн контактирований
Контактирование с выводами ИС осуществляется с помощью подпружиненных контактов (подобных плунжерным pogo-pin), что, по сравнению с проволочными коннекторами, позволяет существенно расширить частотный диапазон (с десятков МГц до единиц ГГц) и увеличить ресурс (с тысяч контактирований до сотен тысяч контактирований).
Для использования контактов на печатной плате оснастки нужно формировать площадки, а не металлизированные отверстия, как в случае использования проволочных коннекторов типа thru-hole. Что в ряде случаев значительно упрощает проектирование и изготовление печатной платы оснастки.
Мы постоянно расширяем линейку серийных КУ под отечественные корпуса. Какой тип КУ станет следующим, определяется спросом на него среди наших заказчиков. Обращайтесь — возможно, следующий тип мы произведём под ваши нужды.
«Первый в России центр 3D-печати по производству контактирующих устройств открыли в Ижевске» в блоге «Электроника и электротехника»
© www.interfax-russia.ru
Ижевское ООО «Планар» открыло первый в России аддитивный инжиниринговый центр по выпуску контактирующих устройств для испытания микросхем.
«Данная технология — производство контактирующих устройств для проведения сертификационных испытаний — уникальна для России. Мы первая компания, которая это делает», — сказал директор компании Антон Корженков в ходе церемонии. Он подчеркнул, что с открытием аддитивного центра у сертификационных лабораторий России в этой сфере появится возможность импортозамещения контактирующих устройств.
С помощью произведенной в аддитивном центре оснастки будут проводиться испытания в первую очередь космической аппаратуры и железнодорожной техники. Ранее контактирующие устройства применялись зарубежного, в том числе украинского производства. Стоимость услуг ижевской компании как минимум втрое ниже, чем зарубежных, и заказы также будут выполняться в несколько раз быстрее.
Компания «Планар» планирует поставлять готовую продукцию российским предприятиям, производящим, проектирующим и испытывающим электронную компонентную базу, в том числе Ижевскому радиозаводу.
© www.interfax-russia.ru
ООО «Планар» поставляет электронно-компонентную базу и оборудование для контрольно-поверочной аппаратуры, а также является первой компанией в России, оказывающей услуги по 3D-печати изделий керамо-наполненным пластиком, которые используются для изготовления контактирующих устройств и оснастки. Сотрудничает с крупными предприятиями авиационно-космической отрасли, энергетики, транспорта, нефтегазодобывающей и перерабатывающей промышленности.
Плюсы и минусы бесконтактных платежных систем
Технологические компании и банки хотят, чтобы вы платили в магазинах, а не вытаскивали карту или наличные. Сегодня вы можете совершить бесконтактный платеж, размахивая картой у платежных терминалов. Нет необходимости проводить пластиковую карту через устройство, введите ПИН-код, чтобы разрешить транзакцию, или подписать квитанцию.
Apple выпустила Apple Pay в 2014 году. Android присоединился к игре, выпустив Android Pay через 18 месяцев.Некоторые розничные торговцы, такие как Starbucks и Walmart, имеют свои приложения для электронных платежей для удобства клиентов .
Бесконтактная оплата становится популярной среди молодого поколения . Все больше людей предпочитают платить с помощью мобильного телефона из-за его нескольких преимуществ. Тем не менее, многие люди все еще опасаются использовать бесконтактную платежную систему. Они предпочитают старых традиционных способа оплаты.
В этой статье мы обсудим преимущества и недостатки бесконтактных платежей.Однако перед этим давайте посмотрим на , как работает эта система.
Как работают бесконтактные платежные системы?
Приложения для электронных платежей работают на устройстве, оснащенном микросхемой Near-Field Communication . Эта технология позволяет смартфону отправлять / получать информацию с помощью радиоволн на небольшом расстоянии. Это усовершенствованная технология радиочастотной идентификации (RFID) .
Такие компании, как Apple или Google, не хранят конфиденциальную информацию о клиентах.
Все транзакции происходят в кодах, невосприимчивых к хакерам. Итак, ваша кредитная карта и банковская информация в безопасности. Не пора ли отказаться от старых пластиковых карт и кошелька и перейти на цифровую версию? Давайте посмотрим на преимущества и недостатки систем бесконтактных платежей.
Преимущества системы бесконтактных платежей для клиентов
• Это удобный способ оплаты, так как вам нужно заплатить с помощью смартфона или карты.Таким образом, нет необходимости перемещаться с громоздким кошельком , полным наличных денег и карт. Больше не нужно вводить PIN-код для подтверждения транзакции или подписывать квитанции.
• Это безопасный способ оплаты , который происходит между двумя устройствами. Клиентам не нужно беспокоиться о мошеннических транзакциях. Система бесконтактных платежей не нуждается в вашей карте для связи с каким-либо устройством.
• Технология NFC использует шифрование данных во время передачи конфиденциальной информации.Это снижает опасность кражи ценной информации хакерами.
• Магнитная полоса используется только на картах, но для бесконтактных платежных систем доступны на разных носителях . Они доступны на смартфонах, брелоках, автомобилях или любой мобильной системе.
• Это экономичный и эффективный метод для среднего клиента. Нажатие на оплату намного удобнее, чем любые другие способы оплаты. Клиенты могут использовать бесконтактную платежную карту, не вынимая ее из кошелька.Это позволяет очередям перемещаться в транзитных местах, что экономит много времени для обычных людей.
• Больше ошибок опечаток при вводе ПИН-кода. Система бесконтактных платежей — точная, безопасная и быстрая.
• Клиенты могут отслеживать баллов лояльности и вознаграждения во время покупок. Некоторые банки также могут предлагать кэшбэк при использовании функции электронных платежей.
• Бесконтактные платежи обеспечивают платформу для будущих инноваций . За последние шесть десятилетий после изобретения магнитной полосы мало что изменилось в ее принципах работы.Мы стали свидетелями огромных инноваций в области электронных платежей и надеемся, что эта тенденция сохранится.
• Мобильные платежные приложения имеют функций, которые невозможно представить в карте с магнитной полосой. Некоторые из этих функций — удаленная деактивация, подготовка виртуальных карт и настраиваемая пользователем защита по контактам.
Недостатки для клиентов
• Немногие торговцы пользуются системами бесконтактных платежей. Не все клиенты знают, как пользоваться этой технологией. Это может вызвать замешательство и разочарование среди пользователей.
• Этой технологией могут пользоваться только клиенты, у которых на мобильных телефонах установлены приложения для электронных платежей. Пользователи не могут выходить из дома со своим телефоном с поддержкой NFC, так как им может понадобиться магнитная полоса для оплаты.
• Если вы потеряете кредитную карту, это может быть угрозой. Вору не нужно будет вводить PIN-код или подписывать квитанцию для совершения покупок с использованием вашей карты, пока она не будет заблокирована. Таким образом, ваша учетная запись может быть взломана.
• Может существовать риск атаки вредоносного или шпионского ПО на устройство в приложениях для электронных платежей.Хотя в этих приложениях используется безопасное шифрование данных, хакеры становятся умнее. Они изобретают новые способы кражи ценной онлайн-информации.
• При использовании бесконтактной платежной карты вы не можете изменить лимит на транзакцию , выбранный вашим банком.
Вам также может понравиться Кредитная карта отклонена: что делать?
Преимущества для бизнеса
• Скорость — самое большое преимущество использования бесконтактных платежных систем. Это повышает удовлетворенность клиентов за счет сокращения времени ожидания.Клиентам не нужно искать карты или наличные. Как бизнесу, вам больше не нужно проверять изменения, возвращаемые клиентам. Это упрощает управление денежными средствами.
• С помощью бесконтактных методов оплаты продавцы могут принимать больше платежей в периоды пиковых продаж . Компании могут сократить задержки, не нанимая дополнительный персонал.
• Android Pay не взимает комиссию за транзакции. Таким образом, компаниям не нужно платить никаких дополнительных комиссий, когда клиенты используют приложение.Он взимает только стандартные комиссии за обработку карты.
• С помощью бесконтактных платежей компании могут оптимизировать свои программы лояльности и улучшить отношения с клиентами. Вы можете отправлять цифровые копии карт лояльности, вознаграждений, членских / подарочных карт, специальных предложений и скидок на свой мобильный телефон.
Недостатки для бизнеса
• У клиентов могут возникнуть проблемы с оплатой, если батарея в их мобильном телефоне разряжена.
• Некоторые люди старшего поколения могут испытывать трудности с при использовании приложений для электронных платежей.Они могут не чувствовать себя защищенными этим методом из-за отсутствия образования.
Вам также могут понравиться 5 тенденций будущего обработки платежей — тенденции в платежах
Заключение
Чтобы сделать бесконтактные платежи реальностью, необходимо научить больше людей пользоваться им. Торговцы и технологические компании должны обучать людей.
Клиенты должны знать, что Apple или Google не хранят их информацию и не используют ее каким-либо образом. Транзакция осуществляется с использованием кодов, поэтому конфиденциальные данные невозможно использовать или взломать.Компании, которые хотят улучшить качество обслуживания клиентов, должны подумать о переходе на бесконтактные платежные системы. Если вы раньше не использовали мобильное приложение для электронных платежей или бесконтактную платежную карту, самое время избавиться от запретов.
Примите перемены и оцените преимущества использования систем бесконтактных платежей. Мир идет к цифровой революции, где ты?
.
Повреждение iPhone или iPod водой или другой жидкостью не покрывается гарантией.
Если жидкость повредит iPhone или iPod (например, кофе или безалкогольный напиток), Apple One не покрывает покрытие ущерба, нанесенного жидкостью. -Годовая ограниченная гарантия, но вы можете иметь права в соответствии с законодательством о защите прав потребителей. iPhone и большинство устройств iPod, выпущенных после 2006 года, имеют встроенные индикаторы контакта с жидкостью, которые показывают, контактировало ли устройство с водой или жидкостью, содержащей воду.
IPhone
и большинство устройств iPod оснащены индикаторами контакта с жидкостью (LCI), которые можно видеть снаружи.
LCI активируется при контакте с водой или жидкостью, содержащей воду. Цвет индикатора обычно белый или серебристый, но при контакте с водой или жидкостью, содержащей воду, он становится полностью красным. LCI не активируется из-за изменений влажности и температуры, которые соответствуют требованиям продукта к окружающей среде.
Чтобы узнать, контактировал ли LCI в вашем устройстве с жидкостью, найдите свой продукт в таблице ниже и найдите LCI или LCI в вашем устройстве. Чтобы помочь вам увидеть LCI, используйте увеличительное стекло с подсветкой и наклоняйте свет или устройство, пока не увидите LCI.
В этой таблице показано, где находится индикатор (или индикаторы) и как они выглядят после контакта с жидкостью:
Товар | Расположение индикатора контакта с жидкостью |
iPhone 11 | |
iPhone 11 Pro, iPhone 11 Pro Max | |
iPhone XS, iPhone XS Max, iPhone X | |
iPhone XR | |
iPhone 8, iPhone 8 Plus | |
iPhone 7, iPhone 7 Plus | |
iPhone 6, iPhone 6 Plus, iPhone 6s, iPhone 6s Plus | |
iPhone 5, iPhone 5C, iPhone 5s, iPhone SE | |
iPhone 4, iPhone 4s | |
iPhone 3G, iPhone 3GS |
|
iPhone |
|
iPod touch * |
|
iPod nano * |
|
iPod classic | |
iPod shuffle (3-го поколения) |
Если вы не уверены, вызывает ли воздействие жидкости проблему для вашего устройства, даже если вы видите красный индикатор LCI, обратитесь за помощью в AppleCare или авторизованный поставщик услуг iPhone.
* iPod nano (7-го поколения) и iPod touch (5-го поколения) не имеют видимого индикатора контакта с жидкостью.
.
Свяжитесь с нами | Analog Devices
Некоторые файлы cookie необходимы для безопасного входа в систему, но другие необязательны для функциональной деятельности. Сбор наших данных используется для улучшения наших продуктов и услуг. Мы рекомендуем вам принять наши файлы cookie, чтобы обеспечить максимальную производительность и функциональность нашего сайта. Для получения дополнительной информации вы можете просмотреть сведения о файлах cookie. Узнайте больше о нашей политике конфиденциальности.
Принять и продолжить Принять и продолжить
Файлы cookie, которые мы используем, можно разделить на следующие категории:
- Строго необходимые файлы cookie:
- Это файлы cookie, которые необходимы для работы аналога.com или предлагаемые конкретные функции. Они либо служат единственной цели выполнения сетевых передач, либо строго необходимы для предоставления онлайн-услуг, явно запрошенных вами.
- Аналитические / рабочие файлы cookie:
- Эти файлы cookie позволяют нам проводить веб-аналитику или другие формы измерения аудитории, такие как распознавание и подсчет количества посетителей и наблюдение за тем, как посетители перемещаются по нашему веб-сайту. Это помогает нам улучшить работу веб-сайта, например, за счет того, что пользователи легко находят то, что ищут.
- Функциональные файлы cookie:
- Эти файлы cookie используются для распознавания вас, когда вы возвращаетесь на наш веб-сайт. Это позволяет нам персонализировать наш контент для вас, приветствовать вас по имени и запоминать ваши предпочтения (например, ваш выбор языка или региона). Потеря информации в этих файлах cookie может сделать наши службы менее функциональными, но не помешает работе веб-сайта.
- Целевые / профилирующие файлы cookie:
- Эти файлы cookie записывают ваше посещение нашего веб-сайта и / или использование вами услуг, страницы, которые вы посетили, и ссылки, по которым вы переходили.Мы будем использовать эту информацию, чтобы сделать веб-сайт и отображаемую на нем рекламу более соответствующими вашим интересам. Мы также можем передавать эту информацию третьим лицам с этой целью.
Отклонить файлы cookie.
Найдите серийный номер или IMEI на своем iPhone, iPad или iPod touch
Узнайте, как найти серийный номер, IMEI / MEID, CDN и ICCID на вашем iPhone, iPad или iPod touch.
Прежде чем начать
- Эти номера можно найти в нескольких местах, в том числе в настройках, на физическом устройстве, в Finder или iTunes, а также на оригинальной упаковке.
- При обращении в Apple за поддержкой вы можете использовать серийный номер или номер IMEI / MEID для идентификации вашего устройства.
Найдите серийный номер, IMEI / MEID или ICCID
- Перейдите в «Настройки»> «Общие» и нажмите «О программе».
- Найдите серийный номер. Возможно, вам придется прокрутить вниз, чтобы найти IMEI / MEID и ICCID.
- Чтобы вставить эту информацию в формы регистрации или поддержки Apple, нажмите и удерживайте номер, который нужно скопировать.
Все еще не нашли нужный номер? См. Следующие разделы.
iPhone
На этих устройствах найдите серийный номер в настройках и IMEI / MEID на лотке для SIM-карты. Если вам нужна поддержка, но вы не можете просмотреть меню настроек, вы можете использовать IMEI / MEID вместо серийного номера:
- iPhone SE (2-го поколения)
- iPhone 11
- iPhone 11 Pro
- iPhone 11 Pro Max
- iPhone XS
- iPhone XS Max
- iPhone XR
- iPhone X
- iPhone 8
- iPhone 8 Plus
- iPhone 7
- iPhone 7 Plus
- iPhone 6s
- iPhone 6s Plus
На этих устройствах найдите серийный номер в настройках и IMEI / MEID (MEID — это первые 14 цифр IMEI) на задней панели.Если вам нужна поддержка, но вы не можете просмотреть меню настроек, вы можете использовать IMEI / MEID вместо серийного номера:
- iPhone 6
- iPhone 6 Plus
- iPhone SE (1-го поколения)
- iPhone 5s
- iPhone 5c
- iPhone 5
iPad и iPod touch
Найдите серийный номер вашего iPad Pro, iPad или iPod touch на задней панели устройства.На iPad (модель Wi-Fi + сотовая связь) вы также найдете IMEI.
Finder и iTunes
Вы также можете найти серийный номер своего устройства в Finder или iTunes:
- Подключите устройство к компьютеру.
- На Mac с macOS Catalina 10.15 или более поздней версии откройте Finder.На Mac с macOS Mojave или более ранней версией или на ПК откройте iTunes.
- Найдите свое устройство. В Finder убедитесь, что вы находитесь на вкладке «Общие». В iTunes щелкните вкладку «Сводка», чтобы просмотреть информацию.
- Для iPhone щелкните «Номер телефона» под именем устройства или под моделью устройства, чтобы найти IMEI / MEID и ICCID. Для iPad (сотовая модель) щелкните Серийный номер, чтобы найти CDN, IMEI / MEID и ICCID.
Если вы хотите вставить эту информацию в формы регистрации или поддержки Apple, выберите «Правка»> «Копировать серийный номер».
Если у вас нет устройства
Есть несколько мест для проверки, которые могут отображать серийный номер или номер IMEI / MEID.
- Перейдите на сайт appleid.apple.com в веб-браузере на своем компьютере.
- Войдите, используя Apple ID, который вы используете на своем устройстве.
- Прокрутите вниз до раздела «Устройства».Чтобы увидеть серийный номер и номер IMEI / MEID, выберите устройство.
Если вам все еще нужна помощь, попробуйте следующее:
- У вас есть другое устройство с iOS 10.3 или новее, на котором выполнен вход под вашим Apple ID? На этом устройстве перейдите в «Настройки»> [Ваше имя]. Прокрутите вниз, чтобы увидеть все устройства, на которых выполнен вход с вашим Apple ID. Чтобы просмотреть серийный номер и номер IMEI / MEID, коснитесь имени устройства.
- У вас осталась оригинальная упаковка вашего устройства? Найдите серийный номер и IMEI / MEID на штрих-коде:
- Все еще не можете найти нужный номер? Обратитесь в службу поддержки Apple, выбрав свое устройство из этого списка:
Информация о продуктах, произведенных не Apple, или о независимых веб-сайтах, не контролируемых и не проверенных Apple, предоставляется без рекомендаций или одобрения.Apple не несет ответственности за выбор, работу или использование сторонних веб-сайтов или продуктов. Apple не делает никаких заявлений относительно точности или надежности сторонних веб-сайтов. Свяжитесь с продавцом для получения дополнительной информации.
Дата публикации:
.